( NÖLB ) Murhammer, Christian: Design and Simulation of a Mixed Signal Testchip in a 0.35μm HV-CMOS Technology for High Precision DC Measurements. - [Sankt Pölten] , 2006. - X, 52 Bl. : Ill., zahlr. graph. Darst. ( Kollat: X, 52 Bl. : Ill., zahlr. graph. Darst.) Zsfassungen in dt. und engl. Sprache. - Sankt Pölten, Fachhochschul-Studiengang Computersimulation, Dipl.-Arb., 2006 Sign.: 112.958 C * Standort: Kein Sonderstandort (Magazinsaufstellung) |