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( Monografy NÖLB ) Murhammer, Christian: Design and Simulation of a Mixed Signal Testchip in a 0.35μm HV-CMOS Technology for High Precision DC Measurements. -
[Sankt Pölten] , 2006. - X, 52 Bl. : Ill., zahlr. graph. Darst. ( Kollat: X, 52 Bl. : Ill., zahlr. graph. Darst.)
Zsfassungen in dt. und engl. Sprache. - Sankt Pölten, Fachhochschul-Studiengang Computersimulation, Dipl.-Arb., 2006
Sign.: 112.958 C * Standort: Kein Sonderstandort (Magazinsaufstellung)